RU 2327975 C1, 27.06.2008. RU 2317942 C1, 27.02.2008. RU 2221862 C1, 20.01.2004. ЕР 0412190 А, 13.02.1991. JP 2003315289 A, 06.11.2003. US 6054708 A, 25.04.2000.
Имя заявителя:
Волобуев Андрей Николаевич (RU), Осипов Олег Владимирович (RU), Панфёрова Татьяна Александровна (RU)
Изобретатели:
Волобуев Андрей Николаевич (RU) Осипов Олег Владимирович (RU) Панфёрова Татьяна Александровна (RU)
Патентообладатели:
Волобуев Андрей Николаевич (RU) Осипов Олег Владимирович (RU) Панфёрова Татьяна Александровна (RU)
Реферат
Изобретение относится к радиотехнике, в частности к способам определения электрофизических параметров искусственных киральных материалов, применяемых при изготовлении отражающих покрытий, волноведущих и излучающих структур СВЧ-диапазона. Предлагается экспериментальный способ измерения параметра киральности плоскопараллельного образца искусственной киральной среды с использованием сканирующего СВЧ-излучения с известной длиной волны при заданных значениях диэлектрической и магнитной проницаемостей вещества. Способ основывается на регистрации угла поворота плоскости поляризации СВЧ-излучения известной длины волны при прохождении плоскопараллельного образца кирального материала с помощью прямоугольной Е-плоскостной секториальной рупорной антенны. Параметр киральности образца вычисляется на основе экспериментально полученных данных как отношение угла поворота плоскости поляризации СВЧ-излучения к модулю волнового числа этого излучения. Технический результат изобретения - возможность определения параметра киральности материала в широком диапазоне длин волн СВЧ. 2 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента