C.WORLEY, J. HAVRILLA. ANAL. CHEM. V70, 14, Р.2957-2963, 1998. RU 2008658 C1, 28.02.1994. RU 2300756 C1, 10.06.2007. SU 1840244 A1, 10.08.2006. RU 2258918 C1, 20.08.2005. JP 2006189281 A, 20.07.2006. US 2005196881 A1, 08.09.2005. JP 11316201 A, 16.11.1999.
Имя заявителя:
Российская Федерация, от имени которой выступает государственный заказчик - Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (RU), Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" - ФГУП "РФЯЦ - ВНИИЭФ" (RU)
Изобретатели:
Васин Михаил Геннадьевич (RU) Моровов Александр Петрович (RU) Назаров Вадим Васильевич (RU) Лахтиков Александр Евгеньевич (RU)
Патентообладатели:
Российская Федерация, от имени которой выступает государственный заказчик - Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (RU) Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" - ФГУП "РФЯЦ - ВНИИЭФ" (RU)
Реферат
Использование: для получения пространственных распределений химических элементов по поверхности образца. Сущность: заключается в том, что осуществляют облучение поверхности образца пучком ионизирующего излучения с регистрацией образованного рентгеновского флуоресцентного излучения, анализ флуоресцентного излучения образца при использовании полученного с помощью полупроводникового регистратора изображения на основе математической процедуры обработки данных, при этом образец облучают широким пучком ионизирующего излучения с энергией, достаточной для возбуждения характеристического рентгеновского излучения элементов, составляющих образец, изображение формируют посредством камеры-обскуры, в качестве регистратора используют рентгеночувствительную ПЗС камеру, работающую в режиме регистрации отдельных квантов, накапливают информацию в кадровом режиме с малой длительностью кадра, производят программную математическую обработку в каждом кадре, выделяя в каждом кадре пиксели, соответствующие характеристической линии рентгеновского излучения интересующего химического элемента, после чего в результате последовательного суммирования некоторого количества кадров получают искомое распределение химического элемента по поверхности образца. Технический результат: упрощение процедуры получения распределения химических элементов по поверхности образца при сопоставимой разрешающей способности по отношению к используемым более сложным процедурам получения распределения химических элементов по поверхности образца. 2 з.п. ф-лы, 2 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента