|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| РЕНТГЕНОВСКИЙ РЕФЛЕКТОМЕТР |  |
Номер публикации патента: 2166184 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B015/08 G01N023/20 | | Аналоги изобретения: | RU 2104481 C, 10.02.1998. SU 1516916 A, 23.10.1989. SU 978672 A, 27.09.1996. SU 550565 A, 15.03.1977. |
| Имя заявителя: | Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН | | Изобретатели: | Турьянский А.Г.
Пиршин И.В. | | Патентообладатели: | Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН |
Реферат | |
Изобретение относится к области рентгенотехники и может использоваться для контроля плотности, состава, толщины пленок, а также для определения параметров кристаллической структуры. Устройство содержит источник полихроматического рентгеновского излучения, средства коллимации рентгеновского пучка, держатель образца, поворотный кронштейн и средства детектирования излучения.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента