|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ МНОГОЭЛЕМЕНТНОГО РЕНТГЕНОРАДИОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА В ТОНКИХ СЛОЯХ |  |
Номер публикации патента: 2133957 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N023/22 G01V005/00 G01N023/223 | | Аналоги изобретения: | Smolniakov V.I., Koltoun I.A. Decomposition spectrometric data of energy dispersive X-ray fluorescence analysis (EDXRF). Advances in X-ray analysis. New Jork, London . Plenum Press, 1992. V. 35B, p. 743 - 748. SU 444970 А, 06.08.75. SU 1566272 А, 23.05.90. US 5418826 А, 23.05.95. WO 9524638 А1, 14.09.95. |
| Имя заявителя: | Институт химии Дальневосточного отделения РАН | | Изобретатели: | Иваненко В.В.
Ракита К.А. | | Патентообладатели: | Институт химии Дальневосточного отделения РАН |
Реферат | |
Использование: многоэлементный анализ сложных спектров в объектах минерального сырья, океана, при экологических исследованиях. Технический результат, достигаемый при реализации изобретения, заключается в повышении точности и производительности анализа за счет использования более точных значений коэффициентов межэлементного влияния и устранения влияния изменений энергетического разрешения спектрометра на результаты анализа. Для этого проводят предварительную калибровку спектрометра при различных энергетических разрешениях спектрометра образцами чистых элементов, рассчитывают индивидуальные значения коэффициентов межэлементного наложения элементов, описывают общую закономерность изменения этих коэффициентов в зависимости от их атомного номера и энергетического разрешения спектрометра, а расчетные значения коэффициентов, полученные с использованием этой зависимости, используют для обработки спектра исследуемого образца методом последовательных приближений. 3 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента