|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОЙ ТОМОГРАФИИ |  |
Номер публикации патента: 2098795 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N023/00 G01N023/08 | | Аналоги изобретения: | 1. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник/Под ред. Клюева В.В., т. 1. - М.: Машиностроение, 1986, с. 399 - 401. 2. GB, заявка, 1283915, кл. G 01 N 23/06, 1968. |
| Имя заявителя: | Войсковая часть 75360 | | Изобретатели: | Кузелев Н.Р.
Маклашевский В.Я.
Парнасов В.С.
Юмашев В.М. | | Патентообладатели: | Войсковая часть 75360 |
Реферат | |
Использование: оценка качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно, дефектоскопия с использованием вычислительной томографии. Сущность изобретения: излучение от точечного источника проходит через объект контроля, перемещаемый сканером, осуществлящим возвратно-поступательное перемещение и дискретное вращение объекта контроля, и попадает на матрицу детекторов, располагаемую в веерном пучке, проходящем через плоскость просвечивания. Перед началом каждого цикла сканирования осуществляют нормировку, для чего поворачивают всю линейную матрицу детекторов на 90o относительно крайнего детектора в матрице, выводя ее из "тени" объекта контроля, и регистрируют интенсивности излучений, попадающих на каждый из детекторов матрицы, и вводят эту информацию в память ЭВМ. Затем матрицу детекторов автоматически возвращают в рабочее положение и регистрируют интенсивность излучения, прошедшего через объект контроля в каждый из детекторов. Эти результаты корректируют по результатам нормировки, хранящимся в памяти ЭВМ, и опять вводят в ЭВМ для последующего получения томограммы. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента