|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ДИФРАКТОМЕТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОРИЕНТАЦИИ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИХ ОСЕЙ В КРУПНОМ МОНОКРИСТАЛЛЕ ИЗВЕСТНОЙ СТРУКТУРЫ |  |
Номер публикации патента: 2085917 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N023/20 | | Аналоги изобретения: | 1. Русаков А.А. Рентгенография металлов. - М.: Атомиздат, 1977, с. 149 - 167. 2. Хейкер Д.М. Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов. - Л.: Машиностроение, 1973, с. 125 - 129. |
| Имя заявителя: | Научно-производственное объединение "Геофизика" | | Изобретатели: | Макаров А.Е.
Груздов В.В.
Архипов Ю.Г. | | Патентообладатели: | Научно-производственное объединение "Геофизика" |
Реферат | |
Сущность изобретения: поверхность кристалла облучают монохроматическим рентгеновским излучением. Путем поворота кристалла вокруг оси дифрактометра и вращения кристалла в плоскости ориентации фиксируют углы ω1 и ω2, при которых наблюдается максимальное отражение. Дополнительно в этом положении фиксируют углы вращения v1 и v2 в плоскости вращения кристалла, перпендикулярной экваториальной плоскости гониометра. Используя координатную сетку Болдырева, откладывают углы и v1 и v2, определяют направление наклона нормали к отражающей плоскости по отношению к плоскости ориентации и по расчетному углу δ = (ω2-ω1)/2 определяют выход нормали на гномостереографической проекции. По зафиксированным таким образом проекциям нормалей строят полную гномостереографическую проекцию исследуемого кристалла, которая позволяет выявить ориентацию всех режущих граней алмазного монокристального инструмента относительно его базовых плоскостей, не производя дополнительных съемок. 1 ил., 2 табл.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента