|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СВЕРХВЫСОКОЧАСТОТНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ |  |
Номер публикации патента: 2188433 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R027/26 G01N022/04 | | Аналоги изобретения: | ДУВИНГ В.Г. Локальные измерения диэлектрической проницаемости и потерь подложек интегральных схем на СВЧ, Электронная техника, серия 1, 1984, вып.12, с.34-38. RU 2011972 С1, 30.04.1994. RU 2060490 С1, 20.05.1996. SU 1521049 А1, 20.06.1996. RU 2062476 С1, 20.06.1996. US 4866369 А, 12.09.1989. US 3458808 А, 29.07.1969. |
| Имя заявителя: | Саратовский государственный университет им. Н.Г.Чернышевского | | Изобретатели: | Дувинг В.Г. | | Патентообладатели: | Саратовский государственный университет им. Н.Г.Чернышевского |
Реферат | |
Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и может использоваться для неразрушающего локального определения диэлектрической проницаемости () и тангенса угла потерь диэлектрических материалов для микроэлектроники. Техническим результатом является повышение точности измерения потерь диэлектрических материалов на СВЧ.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента