|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ |  |
Номер публикации патента: 2146045 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N022/02 | | Аналоги изобретения: | RU, 2121671 C1, 10.11.98. RU, 2067759 C1, 10.10.96. RU, 2084876 C1, 20.07.97. SU, 1109613 A, 23.08.84. RU, 2103700 C1, 27.01.98. SU, 1281987 A1, 07.01.87. FR, 2635187 A1, 09.02.90. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий /Под ред. Клюева В.В. - М.: Машиностроение, 1976, с. 214 - 228. Потапов А.И. и др. Технологический неразрушающий контроль пластмасс. - Л.: Химия, 1979, с. 61 - 127. Викторов В.В. Радиоволновые измерения параметров технологических процессов. - М.: Энергоатомиздат, 1989, с. 51 - 55. |
| Имя заявителя: | Орлов Александр Борисович | | Изобретатели: | Орлов А.Б.
Орлов К.А.
Лутин Э.А.
Желяева Л.Э. | | Патентообладатели: | Орлов Александр Борисович
Орлов Кирилл Александрович
Лутин Эмиль Аркадьевич
Желяева Лилия Эмильевна |
Реферат | |
Способ обнаружения дефектов заключается в том, что контролируемое изделие облучают электромагнитными сигналами под углом к его поверхности, принимают отраженные электромагнитные сигналы, измеряют параметры отраженных электромагнитных сигналов и по результатам измерений определяют наличие дефектов, при этом облучение осуществляют через диэлектрическую пластину, которую устанавливают на поверхности контролируемого изделия, и с помощью приемопередающей двухкомпонентной антенны эллиптической поляризации, апертуру которой размещают внутри диэлектрической пластину, облучают контролируемое изделие электромагнитными сигналами с эллиптической поляризацией, а в качестве параметров отраженных электромагнитных сигналов используют величины изменения параметров, характеризующих состояние эллипса поляризации излучаемого электромагнитного сигнала. Дополнительно ведут прием отраженных электромагнитных сигналов первой, второй приемной двухкомпонентной антенны эллиптической поляризации, апертуры которых располагают соответственно за и перед апертурой приемопередающей двухкомпонентной антенны эллиптической поляризации, внутри диэлектрической пластины. Технический результат заключается в обеспечении возможности обнаружения в объеме стен, стыков стен, в углах, в перекрытиях строительных сооружений, в частности армированных, с высокой степенью точности, высокой разрешающей способностью и высокой вероятностью инородных металлических или диэлектрических дефектов - предметов искусственного или естественного происхождения. 6 з.п.ф-лы, 5 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента