Изобретение относится к спектральному анализу. В способе расстояние от верхнего края испарителя до его дна делают более 5 мм, а исследуемое вещество кладут на дно испарителя так, чтобы исследуемое вещество находилось в центре дна и при его нагревании не соприкасалось с боковыми стенками испарителя. На дне цилиндрического испарителя размещают небольшую массу исследуемого вещества, которая полностью испаряется из испарителя в процессе сгорания его боковых стенок, при этом в процессе исследования ведут покадровое измерение температуры нагрева вещества. Аналитические сигналы, характеризующие количество атомов, испаряющихся из расплава вещества, в различные моменты времени (кадры) регистрируют с использованием атомного спектрального анализа с применением интегрально-сцинтилляционного покадрового метода регистрации спектров. Результаты исследования вещества и его расплава получаются с использованием расчета содержаний химических элементов по «соотношению условных содержаний» большого числа элементов без знания массы исследуемого вещества или его виртуальных микронавесок. 1 з.п. ф-лы, 3 ил., 2 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента