ЕР 0677738 A1, 18.10.1995. JP 2004335410 A, 25.11.2004. WO 2005/111588 A1, 24.11.2005. ЕР 0300990 A2, 25.01.1989. SU 1822950 A1, 23.06.1993.
Имя заявителя:
3М ИННОВЕЙТИВ ПРОПЕРТИЗ КОМПАНИ (US)
Изобретатели:
РАКОВ Нил А. (US) ПАОЛЮЧЧИ Дора М. (US) ДЭВИД Мозес М. (US) ВЕНДЛЭНД Майкл С. (US) ТРЕНД Джон Е. (US) ПОЙРИЭР Ричард Дж. (US)
Патентообладатели:
3М ИННОВЕЙТИВ ПРОПЕРТИЗ КОМПАНИ (US)
Приоритетные данные:
11.09.2006 US 11/530,619
Реферат
Заявленная группа изобретений относится к оптически чувствительным детекторам и их получению. Способ формирования оптически чувствительного многослойного отражающего изделия включает этапы, на которых наносят слабый раствор или суспензию металлических наночастиц на оптически чувствительный пористый детектирующий слой и позволяют высохнуть раствору или суспензии для формирования проницаемого для жидкости или пара пористого светоотражающего слоя, выполненного из контактирующих друг с другом металлических наночастиц, расположенных в виде структуры, приближенной к стопке пушечных ядер или шариков, которая позволяет анализируемой жидкости или пару проходить через светоотражающий слой в детектирующий слой, чтобы вызвать оптическое изменение в детектирующем слое в присутствии анализируемого вещества. При этом упомянутые наночастицы имеют средний диаметр от 1 до 100 нм, а размер пор в детектирующем слое составляет от 0,5 до 20 нм. Группа изобретений также относится к оптически чувствительному многослойному отражающему изделию, содержащему вышеуказанные пористый детектирующий слой и пористый светоотражающий слой, а также к индикатору, содержащему указанное изделие и размещенные в непосредственной близости от него слой или массу сорбирующей среды. Группа изобретений обеспечивает упрощение способа формирования пористого светоотражающего слоя, обеспечивающего прохождение через него анализируемой жидкости или пара в детектирующий слой, при уменьшении отрицательного влияния на оптическую чувствительность детектирующего слоя. 3 н. и 14 з.п. ф-лы, 12 ил., 1 табл., 6 пр.
Поиск патентов
Получить полное описание патента