ОПТИЧЕСКАЯ ТЕХНОЛОГИЯ. Учебное пособие. / Под ред. Э.С.Путилина. - СПб.: СПб ГУ ИТМО, 2006, с.36-40. МЕЛАНХОЛИН Н.М. Методы исследования оптических свойств кристаллов. - М.: Наука, 1970, с.62-77. GB 878915 A, 04.10.1961. JP 63065335 A, 23.03.1988. RU 2366916 C1, 10.09.2009.
Имя заявителя:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дальневосточный государственный университет путей сообщения" (ДВГУПС) (RU)
Изобретатели:
Пикуль Ольга Юрьевна (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дальневосточный государственный университет путей сообщения" (ДВГУПС) (RU)
Реферат
Изобретение относится к области поляризационных измерений и предназначено для определения параметров кристаллических пластинок, изготовленных из одноосных кристаллов. Способ осуществляют с помощью оптической системы, содержащей установленные перпендикулярно ее оси системы поляризатор, исследуемую фазовую анизотропную кристаллическую пластинку /4, фазовый компенсатор, анализатор, скрещенный с поляризатором. Между исследуемой пластинкой и фазовым компенсатором устанавливают рассеиватель. Путем поворота исследуемой кристаллической пластинки вокруг оси оптической системы получают коноскопическую картину в виде светлого «мальтийского креста». Положение оптической оси в плоскости входной грани исследуемой фазовой анизотропной кристаллической пластинки /4 определяют по ее параллельности с линией, соединяющей две черные точки в коноскопической картине. Изобретение позволяет достаточно быстро определить точное положение оптической оси в плоскости входной грани фазовой анизотропной кристаллической пластинки /4 при массовом тестировании фазовых кристаллических пластинок произвольной толщины. 1 ил., 2 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента