DE 19610393 А1, 18.09.1997. SU 1797336 А1, 27.03.1995. DE 4406768 А1, 07.09.1995. GB 2263004 А, 07.07.1993. GB 1316382 А, 09.05.1973. GB 2379733 А, 19.03.2003.
Имя заявителя:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный горный университет" (RU)
Изобретатели:
Васильев Евгений Алексеевич (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный горный университет" (RU)
Реферат
Изобретение относится к исследованиям драгоценных камней и предназначено для идентификации, выявления признаков облагораживания, искусственного происхождения ограненных драгоценных камней, в том числе в изделиях. Способ включает регистрацию спектров оптической плотности драгоценных камней в инфракрасной области с использованием спектрометра, оснащенного микроскопом, работающим в режиме отражения, проводимую следующим образом: исследуемый ограненный драгоценный камень или изделие с драгоценным камнем фиксируется в держателе, площадкой вверх и перпендикулярно оптической оси объектива микроскопа, затем проводится подбор положения образца с фокусировкой на внутреннем объеме в нижней части павильона так, чтобы сигнал на детекторе спектрометра был максимальным, и регистрируется спектр света, прошедшего через образец и отразившегося от его поверхностей. В качестве фонового спектра может использоваться спектр света, отраженного от металлического зеркала, или спектр света, отразившегося от площадки при фокусировке на площадку, или спектр света в режиме пропускания. Затем рассчитывается спектр оптической плотности, по которому проводится диагностика драгоценного камня. Способ отличается высокой экспрессностью и может быть реализован на стандартных, оснащенных микроскопами, инфракрасных спектрометрах.
Поиск патентов
Получить полное описание патента