JP 2002122555 А, 26.04.2002. SU 1067416 A1, 15.01.1984. JP 11051875 A, 26.02.1999. EP 1376103 A2, 02.01.2004. Меланхолин Н.М. Методы исследования оптических свойств кристаллов. - М.: Наука, 1970, с.62-70, 138-147.
Имя заявителя:
ГОУ ВПО "Дальневосточный государственный университет путей сообщения" (ДВГУПС) (RU)
Изобретатели:
Пикуль Ольга Юрьевна (RU)
Патентообладатели:
ГОУ ВПО "Дальневосточный государственный университет путей сообщения" (ДВГУПС) (RU)
Реферат
Способ определения дефектов кварцевой кристаллической линзы включает пропускание сходящегося монохроматического излучения через оптическую систему, содержащую перпендикулярно установленные к ее оси последовательно расположенные источник излучения, скрещенные поляризатор и анализатор, между которыми устанавливают исследуемую кварцевую кристаллическую линзу. Оптическую ось линзы совмещают с осью оптической системы. Получают интерференционную картину, по виду которой судят о дефекте кварцевой кристаллической линзы. О наличии поверхностного дефекта линзы судят по локальному искажению радиусов колец-изохром, пересеченных черным «мальтийским крестом», а о наличии внутреннего дефекта линзы, связанного с неоднородностью показателя преломления, судят по разрыву колец со смещением их относительно центра, пересеченных черным «мальтийским крестом». Технический результат - обеспечение определения как поверхностных, так и внутренних дефектов кварцевой линзы по виду интерференционной картины. 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента