SU 1509682 A1, 23.09.1989. LT 97110 A, 29.12.1997. SU 1182879 A, 23.03.1986. GB 741557 A, 07.12.1955. SU 800681 A1, 30.01.1981. SU 1265558 A1, 23.10.1986.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный горный институт им. Г.В. Плеханова (технический университет)" (RU)
Изобретатели:
Кукуй Анатолий Львович (RU) Матвеева Ольга Петровна (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный горный институт им. Г.В. Плеханова (технический университет)" (RU)
Реферат
Способ определения качества кристаллов исландского шпата для изготовления поляризаторов включает измерение спектра оптической плотности кристалла в диапазоне длин волн от 220 до 400 нм в плоскополяризованном свете. Электрический вектор плоскополяризованного света параллелен оптической оси кристалла. Хотя бы две противоположные грани кристалла, параллельные его оптической оси, отполированы, а оптическая ось кристалла перпендикулярна падающему излучению. Определяют положения максимумов полос поглощения и соответствующие им значения оптической плотности, и определяют категорию качества кристаллосырья следующим образом: 1 категория - не выше 0,31 см-1, 2 категория - не выше 0,35 см-1, 3 категория - не выше 0,45 см-1. Технический результат - более точный контроль светопоглощения кристаллосырья для изготовления поляризаторов. 1 табл., 5 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента