|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОДНОВРЕМЕННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЧАСТИЦ ПО МАССЕ В ДИСПЕРСНОЙ ПРОБЕ И КОНЦЕНТРАЦИИ ЭЛЕМЕНТОВ В ЧАСТИЦЕ ПРОБЫ |  |
Номер публикации патента: 2357233 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N021/73 | | Аналоги изобретения: | SU 890344 А, 15.12.1981. SU 639320 А, 25.07.1981. RU 2248556 С2, 20.03.2005. US 2002/0196436 А1, 26.12.2002. |
| Имя заявителя: | ОБЩЕСТВО С ОГРАНИЧЕННОЙ ОТВЕТСТВЕННОСТЬЮ "ВМК-Оптоэлектроника" (RU) | | Изобретатели: | Заякина Светлана Борисовна (RU)
Лабусов Владимир Александрович (RU)
Аношин Геннадий Никитович (RU)
Путьмаков Анатолий Николаевич (RU) | | Патентообладатели: | ОБЩЕСТВО С ОГРАНИЧЕННОЙ ОТВЕТСТВЕННОСТЬЮ "ВМК-Оптоэлектроника" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к атомно-эмиссионному спектральному анализу. Способ включает ввод пробы в факел плазмы, регистрацию последовательности атомно-эмиссионных спектров во время поступления пробы в плазму, вычисление интенсивности аналитической спектральной линии искомого элемента в зависимости от времени поступления пробы в факел плазмы, определение по градуировочной зависимости концентрации искомого элемента в пробе и определение распределения частиц пробы по массе.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента