|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФЕКТНОСТИ ОПТИЧЕСКИХ НОСИТЕЛЕЙ |  |
Номер публикации патента: 2327974 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N021/958 G01M011/02 | | Аналоги изобретения: | SU 1726989 А1, 15.04.1992. SU 1406453 А1, 30.06.1988. DE 19501158 А, 11.04.1996. DE 19501578 А, 05.12.1996. |
| Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования ТУЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ (ТулГУ) (RU) | | Изобретатели: | Гаврилин Александр Петрович (RU)
Котов Владислав Викторович (RU)
Ларкин Евгений Васильевич (RU)
Талалаев Алексей Кириллович (RU) | | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования ТУЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ (ТулГУ) (RU) |
Реферат | |
Устройство для измерения дефектности оптических носителей, в состав которого входят узел осветителя, оптический носитель, объектив, имеющий оптическую связь с многоэлементным фотоприемником, вход и выход которого подключен к первому выходу и первому входу блока управления, второй выход которого подключены ко входу привода, отличающееся тем, что в устройство введены оперативное запоминающее устройство, вход и выход которого подключены к третьему выходу и второму входу блока управления, диффузный о
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента