|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ПРОСМОТРА И АНАЛИЗА РЕЗУЛЬТАТОВ ДИАГНОСТИКИ НА ОСНОВЕ ДИФРАКЦИИ |  |
Номер публикации патента: 2321842 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N021/41 | | Аналоги изобретения: | WO 01/71322 A2, 27.09.2001. WO 96/12962 A1, 02.05.1996. WO 01/81921 A2, 01.11.1978. RU 96124782 A, 10.04.1999. |
| Имя заявителя: | КИМБЕРЛИ-КЛАРК ВОРЛДВАЙД, ИНК (US) | | Изобретатели: | КЕЙЛОР Роузэнн Мари (US)
ЯНГ Дайфей (US)
АТАНАССОВ Здравко Савов (US)
НОТТС Майкл Юджин (US) | | Патентообладатели: | КИМБЕРЛИ-КЛАРК ВОРЛДВАЙД
ИНК (US) |
Реферат | |
(57) Изобретение относится к области детектирования аналитов в среде. Система обнаружения аналита в образце содержит чувствительный элемент на основе дифракции, содержащий подложку; и устройство для анализа, содержащее источник света, предназначенный для подачи света на устройство на основе дифракции, в котором чувствительный элемент на основе дифракции дифрагирует свет, когда аналит присутствует, и не дифрагирует свет, когда аналит отсутствует, средство для измерения количества дифрагированного
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента