|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО И СПОСОБ ДЛЯ ВЫСОКОСКОРОСТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ОТРАЖАЮЩЕГО МАТЕРИАЛА |  |
Номер публикации патента: 2243540 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N021/89 | | Аналоги изобретения: | US 5585918 А, 17.12.1996. SU 835209 А, 27.02.1996. US 4377340 А, 22.03.1983. SU 1796059 A3, 15.02.1993. US 4162136 А, 24.07.1979. |
| Имя заявителя: | ФИЛИП МОРРИС ПРОДАКТС ИНК. (US) | | Изобретатели: | СМИТ Барри С. (US)
МАЛЛИНС Майкл Дж. (US)
ВАН ДЕРЛИНДЕН Рой (US)
ИРВИН Дональд (US) | | Патентообладатели: | ФИЛИП МОРРИС ПРОДАКТС ИНК. (US) |
Реферат | |
Устройство для обнаружения поверхностных дефектов (F) в материале (27) с частично отражающей поверхностью (25) включает, по меньшей мере, один источник света (23, 23), расположенный так, чтобы направлять падающий свет на поверхность, по меньшей мере, частично отражающего материала (27), и светоприемник (29), расположенный над поверхностью материала (27).
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента