|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ РАССЕЯННОГО ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2242745 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N021/47 | | Аналоги изобретения: | US 6381015 В1, 30.04.2002. ЛЕВШИН Л.В. и др. Оптические методы исследования молекулярных систем. - М.: изд-во МГУ, 1994, с.276-280. US 5923423 А, 13.07.1999. ЕР 0955532 А2, 10.11.1999. ЕР 0916938 А2, 19.05.1999. SU 1286962 А1, 30.01.1987. |
| Имя заявителя: | Андреев Виталий Иванович (RU),Макшанцев Борис Иванович (RU),Моисеев Сергей Владимирович (RU),Рукин Евгений Михайлович (RU) | | Изобретатели: | Андреев В.И. (RU)
Макшанцев Б.И. (RU)
Моисеев С.В. (RU)
Рукин Е.М. (RU) | | Патентообладатели: | Андреев Виталий Иванович (RU)
Макшанцев Борис Иванович (RU)
Моисеев Сергей Владимирович (RU)
Рукин Евгений Михайлович (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области технической физики, в частности, к способам измерения интенсивности рассеяния оптического излучения веществом, позволяющим получать локальные, а также усредненные по поверхности исследуемого объекта характеристики рассеяния. Способ основан на использовании явления оптической интерференции.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента