|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ КОНТРОЛЯ СТРУКТУРНЫХ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ТКАННЫХ МАТЕРИАЛОВ |  |
Номер публикации патента: 2164679 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N021/89 | | Аналоги изобретения: | СУХАРЕВ М.И. и др. Оптический анализ структуры ткани. Известия вузов. ТТП, 1978, № 5, с.12-16. SU 693494 A1, 23.11.1991. РАДЗИВИЛЬЧУК Л.И. и др. Применение дифракционного метода для контроля перекоса уточных нитей. Известия вузов, ТТП, 1990, № 2, с.9-12. SU 450996 A, 16.05.1975. SU 996920 A, 15.02.1983. GB 1280211 A, 05.07.1972. |
| Имя заявителя: | Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна | | Изобретатели: | Шляхтенко П.Г.
Труевцев Н.Н. | | Патентообладатели: | Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна |
Реферат | |
Изобретение относится к оптическим дифракционным методам неразрушающего контроля структурных геометрических периодических параметров непрозрачных тканых полотен любой природы, а также может найти применение при контроле любых пропускающих свет или не пропускающих свет плоских текстильных полотен, которые недоступны для непосредственного дифракционного анализа, но доступы для фотографирования, например музейные тканые образцы. Сущность изобретения заключается в том, что в качестве исследуемого образца, который освещают параллельным пучком монохроматического света с длиной волны λ, перпендикулярно его поверхности, используют негативное или позитивное фронтальное изображение исследуемого материала, полученное при прямом или обратном его освещении на любой прозрачной основе, например фотопленке, а о величене структурных параметров исследуемого материала судят по симметрии и взаимному расположению основных максимумов в дифракционной картине, полученной от изображения исследуемого материала на прозрачной основе, при этом о плотности по утку (Py) судят по величине измеренного расстояния между соседними рядами основных максимумов (&Dgr;X), идущими в направлении уточных нитей в изображении исследуемой ткани, а о плотности по основе (Pо) судят по величине измеренного расстояния между соседними рядами основных максимумов (&Dgr;Y), идущими в направлении нитей основы в изображении, причем значения величин Py, Po рассчитывают по формулам: Py= K&Dgr;X/(Lλ);Po= K&Dgr;Y/(Lλ), где К - коэффициент увеличения изображения исследуемого материала, который равен отношению истинного размера исследуемого материала к размеру его фотоизображения на прозрачной основе, L - расстояние от изображения исследуемого материала до экрана. Техническим результатом является расширение возможностей дифракционного метода применительно к любым видам тканых полотен. 5 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента