На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ АЛЬБЕДО (ВАРИАНТЫ)

Номер публикации патента: 2145076

Вид документа:  C1  Страна публикации:  RU  Рег. номер заявки:  98114242		Получить полное описание патента

Реферат

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды. Технический результат, обеспечиваемый изобретением, состоит в исключении искажающего влияния неустранимых инородных включений центрального или расположенного относительно центра исследуемого фрагмента с эксцентриситетом инородного по отражательным характеристикам включения и различными вариантами сложного неорганизованного отражающего фона с неопределенно дифференцированными отражательными характеристиками. Варианты способа включают актинометрические наблюдения с измерением падающей на исследуемый ограниченный фрагмент отражающей поверхности с дифференцированно отражающим фоном суммарной радиации или ее составляющих - прямой и рассеянной радиации и отраженной от этого фрагмента радиации и определение альбедо по отношениям отраженной радиации к падающей. Измеряют по крайней море отраженную радиацию при установленных накладках, образующих в совокупности сплошной круговой экран радиусом R_ф, меньшим требуемого радиуса, и определяют альбедо экрана, а затем определяют значение А_изм^I по приведенной зависимости, затем удаляют фоновую накладку и производят повторные измерения и определяют значение альбедо А_изм^II, а затем истинное значение альбедо по приведенным зависимостям. 3 с. и 15 з.п.ф-лы, 9 ил.

Вернуться к списку