|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПТИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ УГЛОВ НАКЛОНА ЛУЧЕЙ |  |
Номер публикации патента: 2039968 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N021/41 | | Аналоги изобретения: | 1. д. Marcuse. Retractive index determination / Appl. Opt. - 1979, v.18, N1, р.9 - 13. |
| Имя заявителя: | Институт радиотехники и электроники РАН | | Изобретатели: | Александров И.В.
Жаботинский М.Е.
Тузов А.Н.
Фельд С.Я.
Шушпанов О.Е. | | Патентообладатели: | Институт радиотехники и электроники РАН |
Реферат | |
Изобретение относится к оптическим измерениям параметров световых пучков, в частности к поляризационным измерениям углов наклона лучей в световых пучках, и может быть использовано для измерения показателя преломления в прозрачных объектах. Сущность изобретения: способ заключается в том, что оптически сопрягают указанные точки с апертурой фотоприемника, преобразуют искомое распределение углов наклона лучей в распределение положения лучей в поперечном сечении, расположенном между исследуемым сечен
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента