|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2033603 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N021/55 | | Аналоги изобретения: | 1. Авторское свидетельство СССР N 135256, кл. G 01N 21/55, 1960. |
| Имя заявителя: | Киевский университет им.Т.Шевченко (UA) | | Изобретатели: | Вакуленко Олег Васильевич[UA]
Одарич Владимир Андреевич[UA]
Стащук Василий Степанович[UA] | | Патентообладатели: | Киевский университет им.Т.Шевченко (UA) |
Реферат | |
Использование: в приборах для измерения оптических параметров материалов. Сущность изобретения: в качестве эталона выбирают плоскопараллельную пластину из высокопреломляющего и прозрачного полупроводникового вещества и измеряют интенсивности света, отраженного и прошедшего через эту пластину, что позволяет устранить непроизводительную операцию контроля коэффициента отражения эталона во времени.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента