|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СПЕКТРА РАЗМЕРОВ АТОМА |  |
Номер публикации патента: 2302663 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G09B023/20 G01N015/14 B82B003/00 | | Аналоги изобретения: | БОКИЙ Г.Б. Кристаллохимия, М.: Наука, 1971, стр.138, 181, 284, 355. ПОТАПОВ А.А. Деформационная поляризация, Новосибирск, Наука, 2004, стр.491-492. SU 1000868 A1, 28.02.1983. ИОФФЕ Б.В. Рефрактометрические методы химии, Л.: Химия, 1983, стр.98. |
| Имя заявителя: | Орлов Артур Дмитриевич (RU) | | Изобретатели: | Орлов Артур Дмитриевич (RU) | | Патентообладатели: | Орлов Артур Дмитриевич (RU) |
Реферат | |
Спектроскопический способ определения спектра размеров атома заключается в том, что определяют спектр размеров атома как совокупность значений его радиусов в основном состоянии и в состояниях его положительных ионов через соответствующие каждому из этих состояний измеренные спектроскопические параметры Eiz и Efz по формуле Rz=[a(Eiz)^(0.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента