|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СВЧ СПОСОБ ЛОКАЛИЗАЦИИ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ В ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И МАГНИТОДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЯХ НА МЕТАЛЛЕ И ОЦЕНКА ИХ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ВЕЛИЧИНЫ |  |
Номер публикации патента: 2256165 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N015/08 G01R029/08 | | Аналоги изобретения: | КЛЮЕВ В.В. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. М.: “Машиностроение”, 1976, т.1, с.199. SU 1056027 А, 23.11.1983. CA 2015544 А, 27.10.1990. DE 19927258 А, 23.12.1999. |
| Имя заявителя: | Тамбовский военный авиационный инженерный институт (RU) | | Изобретатели: | Федюнин П.А. (RU)
Дмитриев Д.А. (RU)
Каберов С.Р. (RU) | | Патентообладатели: | Тамбовский военный авиационный инженерный институт (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к способам определения неоднородностей электрофизических и геометрических параметров диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле состава и свойств твердых покрытий на металле при разработке неотражающих и поглощающих покрытий, а также в химической, лакокрасочной и других отраслях промышленности.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента