|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОРИСТОСТИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ ИЗ МЕДИ И ЕЕ СПЛАВОВ |  |
Номер публикации патента: 2099687 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N015/08 | | Аналоги изобретения: | Авторское свидетельство СССР N 685960, кл. G 01 N 15/08, 1973. Seufen-Ole-Fette-Wacshe, 99, N 11, с. 33. |
| Имя заявителя: | Государственное предприятие Научно-производственное объединение "Астрофизика" | | Изобретатели: | Ашурлы З.И.
Ильин М.К.
Косарецкий Б.Я.
Филин С.А.
Ямпольский В.И. | | Патентообладатели: | Обособленное научно-исследовательское подразделение по солнечной и точной оптике при Научно-производственном объединении "Астрофизика" |
Реферат | |
Использование: для количественного определения пористости диэлектрических покрытий. Сущность изобретения: для определения пористости диэлектрических покрытий оптических элементов из меди и ее сплавов помещают исследуемый оптический элемент с диэлектрическим покрытием в раствор электролита и измеряют величину тока при различных значениях напряжения. После этого заменяют исследуемый оптический элемент на эталонный оптический элемент без диэлектрического покрытия, выполненный из того же материала, устанавливают его идентично исследуемому элементу, измеряют величину тока при различных значениях напряжения и определяют пористость диэлектрического покрытия по формуле:
где κ - пористость диэлектрического покрытия, %; αпор- угол наклона вольтамперной характеристики при измерении исследуемого образца к оси абсцисс; αэт - угол наклона вольтамперной характеристики при измерении эталонного образца к оси абсцисс. В качестве электролита применяют буферную систему при pH 6,6-9,4 с добавлением 0,004 вес.% 1, 2, 3-бензотриазола. 9 табл., 11 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента