|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ПЛОТНОСТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ТВЕРДЫХ МАТЕРИАЛОВ |  |
Номер публикации патента: 1771275 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N009/24 | | Аналоги изобретения: | Арцыбашев В.А. Ядерно-физическая разведка. - М.: Атомиздат, 1972, с.69-69. |
| Имя заявителя: | Всесоюзный научно-исследовательский и проектный институт галургии | | Изобретатели: | Вишняков Э.Х.
Осипов В.П. | | Патентообладатели: | Акционерное общество "Всероссийский научно-исследовательский институт галургии" |
Реферат | |
Использование: в дефектоскопии твердых материалов, а более конкретно - в плотностной дефектоскопии для изучения образцов твердых материалов как правильной, так и неправильной геометрической формы. Сущность изобретения: образец помещают в кювету, которую располагают в коллимированном пучке гамма-квантов, и производят дополнительное измерение интенсивности излучения после заполнения кюветы жидкостью или сыпучим мелкодисперсным материалом, после чего вычисляют значение плотности твердого материала в месте просвечивания по зависимости, связывающей этот показатель с величинами интенсивностей прошедшего через кювету излучения при отсутствии и присутствии в ней образца, а также интенсивность излучения, прошедшего через кювету с образцом и наполняющей ее жидкостью (сыпучим материалом). 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента