СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ, ХАРАКТЕРИЗУЮЩИХ УПРОЧНЯЮЩИЕ И "ЗАЛЕЧИВАЮЩИЕ" СВОЙСТВА НАНОРАЗМЕРНЫХ МОЛЕКУЛЯРНЫХ СТРУКТУР, КОТОРЫЕ ФОРМИРУЮТСЯ НА ПОВЕРХНОСТИ ВОЛОКОННЫХ СВЕТОВОДОВ ПРИ ИХ ИЗГОТОВЛЕНИИ
RU 2194966 C2, 20.12.2002. RU 2200309 C2, 10.03.2003. SU 1654723 A1, 07.06.1991. GB 2104226 A, 02.03.1983.
Имя заявителя:
Учреждение Российской академии наук Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН (RU)
Изобретатели:
Дяченко Алексей Архипович (RU) Шушпанов Олег Ефимович (RU)
Патентообладатели:
Учреждение Российской академии наук Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН (RU)
Реферат
Изобретение относится к методам увеличения прочности волоконных световодов и способам измерения параметров материалов. Сущность: формируют два ансамбля статистически однородных с точки зрения распределения глубин микротрещин на поверхности стекла образцов световодов с защитными покрытиями, по крайней мере один из которых содержит образцы с исследуемыми наноразмерными структурами. Фиксируют параметры среды проведения испытаний и проводят испытания световодов из ансамбля, который содержит образцы с исследуемыми наноразмерными структурами. В процессе испытаний получают значения коэффициента упрочнения световодов и параметра эффективности «залечивания» q микротрещин, а также значение модуля упругости материалов «залечивающих» наноразмерных молекулярных структур и определяют особенности заполнения ими внутренних каналов микротрещин. Технический результат: совершенствование технологии производства световодов. 1 з.п. ф-лы, 14 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента