|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРИТИЧЕСКОЙ СТЕПЕНИ ПЛАСТИЧЕСКОЙ ДЕФОРМАЦИИ В МЕТАЛЛИЧЕСКИХ СПЛАВАХ |  |
Номер публикации патента: 2133027 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N023/20 G01N023/207 G01N003/28 | | Аналоги изобретения: | RU 2049990 С1, 23.09.95. SU 1580231 А1, 23.07.90. SU 1273780 А1, 30.11.86. GB 201141 А, 18.07.79. WO 8501342 А1, 28.03.85. JP 62112009 А, 23.05.87. |
| Имя заявителя: | Самарский государственный аэрокосмический университет им.С.П.Королева | | Изобретатели: | Колеров О.К.
Гречников Ф.В.
Логвинов А.Н.
Арышенский В.Ю. | | Патентообладатели: | Самарский государственный аэрокосмический университет им.С.П.Королева
Общество с ограниченной ответственностью Производственно-коммерческая фирма "АВИКО.С" |
Реферат | |
Использование: в рентгеноструктурном анализе и при контроле термической обработки сплавов после пластической деформации. Сущность изобретения: исследуемые объекты подвергают обработке давлением от докритической до высоких степеней закритической деформации. Деформированные и отожженные образцы рентгенографируют со сцинтилляционной регистрацией дифракционной картины вместе с нетекстурованным эталоном. На основании анализа результатов рентгенографирования определяют дифракционные линии, по соотношению интенсивностей в которых находят реальную величину критической степени пластической деформации. В отличие от металлографического предложения способ является неразрушающим, а в сравнении с рентгеновским способом фоторегистрации дифракционной картины - более точным и менее трудоемким. 2 з.п.ф-лы, 5 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента