Смит А. Прикладная ИК-спектроскопия. - М.: Мир, 1982, 328 с. SU 1798671 А1, 28.02.1993. GB 2363517 А, 19.12.2001. US 6362891 B1, 26.03.2002. SU 1280479 А1, 30.12.1986. RU 97107842 A, 10.05.1999. JP 4106451 A, 08.04.1992.
Имя заявителя:
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела Российской академии наук (ИФТТ РАН) (RU)
Изобретатели:
Фурсова Татьяна Николаевна (RU) Баженов Анатолий Викторович (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела Российской академии наук (ИФТТ РАН) (RU)
Реферат
Группа изобретений относится к образцу для инфракрасной спектроскопии и способу его изготовления, который может быть использован при оптических исследованиях порошкообразных материалов, преимущественно сильно поглощающих. Образец состоит из исследуемого материала и галогенида щелочного металла. При этом галогенид щелочного металла представляет собой пластину с плоскопараллельными гранями, одна из которых шлифована абразивом с размерами зерна не менее 1 и не более 100 мкм. Исследуемый материал, нанесенный на шлифованную грань пластины в виде тонкоизмельченного порошка, заполняющего углубления, имеет толщину, обеспечивающую уровень пропускания света, необходимый для получения качественного спектра. Способ включает получение пластины с плоскопараллельными гранями из галогенида щелочного металла и шлифование одной из граней пластины абразивом с размерами зерна не менее 1 и не более 100 мкм. Затем осуществляют равномерное нанесение на пластину тонко измельченного исследуемого вещества его растиранием по шлифованной поверхности. Достигаемый при этом технический результат заключается в формировании слоя анализируемого вещества малой толщины, обеспечивающей необходимый уровень пропускания света для получения качественного спектра. 2 н.п. ф-лы, 2 ил., 2 пр.
Поиск патентов
Получить полное описание патента