US 2005196872 A1, 08.09.2005. US 4935010 A, 19.06.1990. US 2006039833 A1, 23.02.2006. RU 2088921 C1, 27.08.1997. RU 2179864 C2, 27.02.2002.
Имя заявителя:
БАЙЕР ХЕЛТКЭА ЭлЭлСи. (US)
Изобретатели:
РАМЕЛ Урс А. (US)
Патентообладатели:
БАЙЕР ХЕЛТКЭА ЭлЭлСи. (US)
Приоритетные данные:
12.07.2006 US 11/485,743
Реферат
Группа изобретений относится к вариантам выполнения устройства для приготовления пробы текучей среды для использования в измерителе вещества, определяемого при анализе текучей среды. Устройство содержит первую и вторую части. Первая часть содержит прокалывающий перегородку выступ, капиллярный канал и отверстие во внешней поверхности первой части. Вторая часть содержит камеру для обрабатывающего раствора и перегородку, закупоривающую камеру для обрабатывающего раствора. При этом отверстие открыто, когда первая часть устройства первоначально вставлена во вторую часть устройства, и отверстие закрыто, когда первая часть устройства полностью вставлена во вторую часть устройства. Капиллярный канал, выполненный в первой части устройства, имеет размеры для приема в него пробы текучей среды. Вторая часть включает камеру для обрабатывающего раствора, которая может быть ограничена первой и второй перегородками, где первая часть проникает через первую перегородку, когда первая часть вставлена во вторую часть, таким образом, что содержимое камеры для обрабатывающего раствора смешивается с содержимым капиллярного канала. При этом механизм для прокалывания второй перегородки выполнен таким образом, что содержимое камеры для обрабатывающего раствора и капиллярного канала может быть вытеснено из устройства. Устройство также может включать плунжер, имеющий механизм для проникновения через вторую перегородку таким образом, что содержимое камеры для обрабатывающего раствора и капиллярного канала вытесняется через плунжер. Достигаемый при этом технический результат заключается в обеспечении контроля повышения давления в устройстве при подаче требуемого количества пробы в анализирующий картридж. 3 н. и 1 з.п. ф-лы, 16 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента