RU 2343459 C1, 10.01.2009. SU 206137 A1, 01.01.1967. SU 1457575 A1, 20.04.2007. GB 987884 A, 31.03.1965. US 4129784 A, 12.12.1978. GB 2265002 A, 15.09.1993.
Имя заявителя:
Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт технической физики и автоматизации" ОАО "НИИТФА" (RU)
Изобретатели:
Хорошев Виктор Николаевич (RU) Декопов Андрей Семенович (RU) Никольский Сергей Игоревич (RU) Федотов Владимир Иванович (RU) Косицын Евгений Михайлович (RU) Волчков Юрий Евгеньевич (RU)
Патентообладатели:
Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт технической физики и автоматизации" ОАО "НИИТФА" (RU)
Реферат
Использование: для дефектоскопии изделий посредством гамма-излучения. Сущность: заключается в том, что гамма-дефектоскоп содержит корпус с источником излучения в блоке радиационной защиты, составленным из неподвижной части с коллимационной щелью и подвижного сегмента, с возможностью помещения его в сопрягаемую коллимационную щель, кулису для перемещения подвижного сегмента блока защиты, ручку для переноса гамма-дефектоскопа, шарнирно укрепленную в корпусе, а также дистанционный привод для выпуска и перекрытия пучка излучения, при этом шарниры ручки выполнены в виде поворотных цапф, снабженных профилированными кулачками, кинематически блокирующими кулису при перемещении ручки из горизонтального положения в направлении к вертикальному, и, кроме того, кулиса армирована пружинным элементом, несущим на себе подвижную часть блока защиты. Технический результат: повышение безопасности и удобства эксплуатации дефектоскопа. 2 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента