|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| АНАЛИТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА И СПОСОБ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ И УПРАВЛЕНИЯ ПРОЦЕССОМ ИЗГОТОВЛЕНИЯ СТЕКЛА |  |
Номер публикации патента: 2332655 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N001/00 | | Аналоги изобретения: | ЕР 0643297 А1, 15.03.1995. US 5220403 А, 15.06.1993. WO 02/28954 А1, 11.04.2002. SU 244642 А1, 01.01.1969. |
| Имя заявителя: | СЕНТРЮМ ВОР ТЕХНИШЕ ИНФОРМАТИКА Б.В. (NL) | | Изобретатели: | ДАЛСТРА Йоп (NL) | | Патентообладатели: | СЕНТРЮМ ВОР ТЕХНИШЕ ИНФОРМАТИКА Б.В. (NL) |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике. Аналитическая система содержит чувствительную к инфракрасному излучению измерительную систему и связанный с ней процессор, при этом чувствительная к инфракрасному излучению измерительная система выполнена с возможностью измерения инфракрасного излучения, исходящего от горячих стеклянных изделий непосредственно после процесса формования стеклянных изделий, и процессор выполнен с возможностью определения распределения тепла в стеклянном изделии на осно
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента