|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СИСТЕМА АНАЛИТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ЖИДКИХ ПРОБ |  |
Номер публикации патента: 2173452 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N001/10 G01N035/08 | | Аналоги изобретения: | SU 1075106 A, 23.02.1984. SU 1265519 A1, 23.10.1986. SU 1555641 A1, 07.04.1990. SU 1527545 A1, 07.12.1989. RU 2037146 C1, 09.06.1995. EP 0244751 A2, 11.11.1987. WO 95/27211 A1, 12.10.1995. US 5411708 A, 02.05.1995. |
| Имя заявителя: | ЗАО "Уралавтоматика инжиниринг" | | Изобретатели: | Черепанов Ю.П.
Черепанов Г.Ю.
Голиков В.В. | | Патентообладатели: | ЗАО "Уралавтоматика инжиниринг" |
Реферат | |
Изобретение относится к аналитическому контролю проб растворов и суспензий металлургических и химических производств и может быть использовано при измерении спектральных характеристик жидких материалов. Система аналитического контроля жидких проб содержит последовательно соединенные комплекс средств пробоотбора, транспортную магистраль, воздухоотделительную емкость, насос, клапан сброса и проточную кювету спектрометра. Система снабжена нижним и верхним устройствами коммутации. Верхнее устройство коммутации снабжено измерительной емкостью, емкостью усреднения пробы и установленной на входе в устройство управляемой распределительной трубкой, расположенной над измерительной емкостью и емкостью усреднения пробы. Воздухоотделительная емкость соединена с первым входом насоса, его выход соединен с управляемой распределительной трубкой и выход измерительной емкости соединен через проточную кювету спектрометра со входом нижнего устройства коммутации, выход которого соединен с третьим входом насоса. Проточная кювета спектрометра расположена по высоте между верхним и нижним устройствами коммутации. Система позволяет проводить анализ с высокой точностью, объем расхода пробы в кювете постоянен. 2 з.п.ф-лы, 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента