SU 696329 A1, 05.11.1979. SU 1608450 A1, 23.11.1990. SU 1132169 A1, 30.12.1984. JP 2007322432 A, 13.12.2007.
Имя заявителя:
Мендрух Николай Викторович (RU), Мендрух Денис Николаевич (RU), Терзиева Наталья Сергеевна (RU)
Изобретатели:
Мендрух Николай Викторович (RU) Мендрух Денис Николаевич (RU) Терзиева Наталья Сергеевна (RU)
Патентообладатели:
Мендрух Николай Викторович (RU) Мендрух Денис Николаевич (RU) Терзиева Наталья Сергеевна (RU)
Реферат
Изобретение относится к машиностроению. Сущность: замеряют геометрические параметры зубчатых колес после процесса изнашивания и сравнивают их с параметрами идентичных неизношенных зубчатых колес. Испытываемое колесо включают в замкнутый четырехэлементный силовой контур, составленный из него и двух сопряженных, идентичных неизношенному испытываемому, образцовых колес и элемента в виде диска с расположенным по его периметру зубчатым венцом, профиль которого идентичен профилю образцовых колес. Венец элемента имеет ширину много меньшую ширины зубьев испытываемого колеса. Образцовые колеса жестко закреплены на валах, испытываемое колесо - с возможностью свободного вращения на валу, а элемент - с возможностью принудительного перемещения вдоль вала на величину ширины зубьев испытываемого колеса. При работе контура регистрируют углы поворота испытываемого колеса и элемента, сравнивают эти углы и по разнице их величин судят о степени и характере износа вдоль рабочих поверхностей зубьев испытываемого колеса. В начале испытаний элемент устанавливают в одно из крайних положений на валу, а после каждого полного поворота испытываемого колеса его смещают вдоль вала на шаг, равный ширине венца элемента. Замеры повторяют и определяют дополнительно величины и характер износа поперек рабочих поверхностей зубьев испытываемого колеса, сравнивая углы поворота в одноименных фазах зубчатого профиля испытываемого колеса. Технический результат: уменьшение времени исследований, повышение производительности труда, повышение качества и достоверности получаемой информации. 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента