Пикуль О.Ю. Определение оптического знака кристалла интерференционным способом. О.Ю.Пикуль, В.И.Строганов // Труды IV международной конференции молодых ученых и специалистов «ФПО 2006». - СПб., 17-21 октября 2006, с.192-194. RU 2006114978 А, 10.11.2007. SU 1045004 А1, 30.09.1983.
Имя заявителя:
ГОУ ВПО Дальневосточный государственный университет путей сообщения МПС России (ДВГУПС) (RU)
Изобретатели:
Пикуль Ольга Юрьевна (RU) Рудой Константин Александрович (RU) Строганов Владимир Иванович (RU)
Патентообладатели:
ГОУ ВПО Дальневосточный государственный университет путей сообщения МПС России (ДВГУПС) (RU)
Реферат
Изобретение относится к области оптического приборостроения. Способ определения оптического знака кристалла осуществляют в оптической системе, содержащей последовательно расположенные и установленные перпендикулярно оси системы источник монохроматического излучения, поляризатор, рассеиватель, плоскопараллельную кристаллическую пластинку с положительным оптическим знаком и оптической осью, перпендикулярной к ее входной грани, исследуемую кристаллическую пластинку с оптической осью, перпендикулярной к ее входной грани, анализатор и экран. Способ заключается в предварительной установке оптической оси исследуемой пластинки под углом =10÷40° к оси оптической системы с последующим пропусканием монохроматического излучения через систему и получении коноскопической картины, по которой судят об оптическом знаке исследуемой кристаллической пластинки. О знаке исследуемой пластинки делают вывод по появлению на экране дополнительных коноскопических картин: при появлении двух коноскопических картин делают вывод об отрицательном оптическом знаке исследуемой кристаллической пластинки, при появлении трех коноскопических картин делают вывод о положительном оптическом знаке исследуемой кристаллической пластинки. Технический результат - расширение функциональных возможностей по определению оптического знака кристалла, повышение достоверности определения оптического знака кристалла. 3 ил., 1 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента