|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ |  |
Номер публикации патента: 2315965 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01M011/02 | | Аналоги изобретения: | RU 2025692 C1, 30.12.1994. DE 3528457 A1, 19.02.1987. JP 3296640 A, 27.12.1991. JP 59012405 A, 23.01.1984. JP 2000002625 A, 07.01.2000. SU 1377644 A1, 28.02.1988. |
| Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Курский государственный технический университет (RU) | | Изобретатели: | Бугаенко Елена Ивановна (RU)
Титов Виталий Семенович (RU)
Труфанов Максим Игоревич (RU) | | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Курский государственный технический университет (RU) |
Реферат | |
Изобретение может быть использовано для определения фокусного расстояния, радиуса диафрагмы и размеров фоточувствительной области матричного приемника изображения оптических систем оптико-электронного датчика (ОЭД) при разработке и исследовании систем технического зрения. В способе при определении фокусного расстояния оптической системы ОЭД матричный приемник изображения ОЭД располагают на расстоянии, совпадающем с фокусным расстоянием f оптической системы ОЭД, фокусируют оптическую систему ОЭД н
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента