КРЕОПАЛОВА Г.В. и др. Оптические измерения. - М.: Машиностроение, 1987, с.233-236. SU 1672255 A1, 23.08.1991. SU 1204986 A, 15.01.1986. WO 9605503 A1, 22.02.1996. GB 1384382 A, 19.02.1975.
Имя заявителя:
Открытое акционерное общество "Московский завод "Сапфир" (RU)
Изобретатели:
Тэгай Владимир Анатольевич (RU) Степанов Родион Олегович (RU) Гиндин Павел Дмитриевич (RU) Карпов Владимир Владимирович (RU) Семенов Виктор Иванович (RU) Петренко Виктор Иванович (RU)
Патентообладатели:
Открытое акционерное общество "Московский завод "Сапфир" (RU)
Реферат
Изобретение относится к оптоэлектронной технике, в частности к оценке качества изображения оптических систем. Регистрирующее устройство представляет собой многоэлементный фотоэлектрический полупроводниковый приемник излучения, на фоточувствительную поверхность элементов которого нанесена непрозрачная маска с круглыми отверстиями разного диаметра, выполняющими роль измерительных диафрагм. Маска каждого элемента содержит одно отверстие большого диаметра для регистрации всей энергии излучения в пятне рассеяния оптической системы и несколько одинаковых отверстий малого диаметра, расположенных на расстоянии, исключающем попадание пятна рассеяния в соседние отверстия, и элементы отличаются значением диаметра малых отверстий в масках. Изобретение позволяет повысить точность измерения функции концентрации энергии излучения в пятне рассеяния оптических систем в средневолновом и длинноволновом ИК-поддиапазонах спектра. 2 з.п. ф-лы, 4 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента