|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ЛАБОРАТОРНАЯ УСТАНОВКА ДЛЯ ТЕМПЕРАТУРНЫХ ИСПЫТАНИЙ ВОЕННЫХ ОПТИКО - ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ |  |
Номер публикации патента: 2293959 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01M011/00 | | Аналоги изобретения: | ЕР 1347280 A1, 24.09.2003. SU 905587 A, 15.02.1982. JP 62015447 A, 20.01.1987. SU 1242724 A1, 07.07.1986. RU 2172709 C2, 27.08.2001. SU 1517151 A1, 23.10.1989. |
| Имя заявителя: | Пензенский Артиллерийский Инженерный Институт (RU) | | Изобретатели: | Пархоменко Василий Александрович (RU)
Алчинов Виктор Иванович (RU)
Устинов Евгений Михайлович (RU)
Рыбаков Александр Николаевич (RU)
Мрыхин Павел Владимирович (RU) | | Патентообладатели: | Пензенский Артиллерийский Инженерный Институт (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к устройствам экспериментального определения характеристик оптико-электронных приборов при имитации условий эксплуатации. Лабораторная установка для температурных испытаний содержит длиннофокусный коллиматор, оптическую скамью, место для крепления испытуемых оптико-электронных приборов, источник температурных воздействий, устройство регистрации температуры, таймер, ЭВМ.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента