|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ АМПЛИТУДНО - ФАЗОВОЙ СТРУКТУРЫ СВЕРХКОРОТКИХ СВЕТОВЫХ ИМПУЛЬСОВ С ПОМОЩЬЮ СПЕКТРАЛЬНОГО ПРИБОРА |  |
Номер публикации патента: 2345335 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01J011/00 | | Аналоги изобретения: | RAUTIAN S.G. et al. Measurement of the Characteristics of Optical Signals Varying in Time Based on Registration of the Doubled Spectrum with Geometrical Displacement in Spectral Plane. Journal of Russian Laser Research, 2004, v. 5, №6, p.511-523. КУЗНЕЦОВА Т.Н. О фазовой проблеме в оптике. УФН, 1988, т.154, вып.4, с.678-690. SU 303618 А, |
| Имя заявителя: | Физический институт имени П.Н. Лебедева Российской академии наук (RU) | | Изобретатели: | Крайский Александр Владиславович (RU) | | Патентообладатели: | Физический институт имени П.Н. Лебедева Российской академии наук (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к оптике и может быть использовано для измерения амплитудно-фазовой структуры сверхкоротких световых импульсов фемтосекундного диапазона как излучаемых лазерами, так и любой другой природы. Способ заключается в том, что регистрируют интегральные по времени пространственные распределения не менее чем в двух плоскостях спектрального прибора, которые находятся на различных расстояниях от плоскости формирования спектра.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента