|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ РАЗНОСТИ ФАЗ |  |
Номер публикации патента: 2028577 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01B009/021 G01J009/02 | | Аналоги изобретения: | 1. Карташев А.И. Эцин Н.Ш. Метода измерения малых разностей фаз в интерференционных устройствах УФН, 1972, 106, N 4, с.687-720. |
| Имя заявителя: | Санкт-Петербургский технологический институт холодильной промышленности | | Изобретатели: | Скрипник Ю.А.
Замарашкина В.Н.
Скрипник И.Ю. | | Патентообладатели: | Санкт-Петербургский технологический институт холодильной промышленности
Киевский технологический институт легкой промышленност |
Реферат | |
Изобретение относится к интерференционным измерениям. Сущность: для измерения оптической разности фаз формируют информационный и опорный пучки когерентного излучения, формируют интерференционную картину и преобразуют ее в последовательность электрических сигналов, затем плавно изменяют частоту оптических колебаний когерентного луча до получения сначала максимального, затем минимального значения сигналов фотоэлектрического преобразования, измеряют полученные значения и определяют их разность, формируют сигнал, равный среднему значению также изменением частоты излучения, измеряют частоту сдвига, компенсируют среднее значение сигнала сигналом, соответствующим интенсивности исходного когерентного излучения, изменяют компенсирующий сигнал на величину, превышающую порог чувствительности фотоэлектрического преобразователя, измеряют сигнал некомпенсации, дополнительно сдвигают частоту излучения на величину, при которой компенсируются сигналы фотоэлектрического преобразования, измеряют частоту дополнительного сдвига и определяют разность фаз по математической зависимости, в которую входят измеренные величины. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента