|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ КОМПЕНСАЦИИ ТЕМПЕРАТУРНОГО СМЕЩЕНИЯ ПОЛОСЫ ФИЛЬТРА |  |
Номер публикации патента: 2118800 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01J007/00 | | Аналоги изобретения: | John W.Evans. The Birefringent filter. J.Opt. Soc.Amer., 1949, v. 30, N 3, p. 229 - 242. A.Dollfus et al. A monochromator for Solar quantitative imagery: the instrument EPSS. Astron. Astrophys, 1985, v. 151, p. 235 - 253. Alan M.Title et al.Ground - Based Tunable Filter Observations. Solar and Stellar Granulations. R.J. Ruffen and G.Severibo (eds), 1989 by Kluner Publisher, 25 - 28. |
| Имя заявителя: | Институт солнечно-земной физики СО РАН | | Изобретатели: | Домышев Г.Н.
Кушталь Г.И.
Садохин В.П.
Скоморовский В.И. | | Патентообладатели: | Институт солнечно-земной физики СО РАН |
Реферат | |
Изобретение предназначено для измерения и построения двумерных карт лучевых скоростей астрофизических или других объектов по доплеровскому сдвигу спектральной линии, измеряемому методом сканирования линии полосой пропускания интерференционно-поляризационного фильтра (ИПФ). Для компенсации влияния смещения полосы пропускания нерегулируемых элементов ИПФ на измерения сдвига линии формируют их полосу с двумя максимумами, расстояние между которыми устанавливают на 20 - 30% больше величины сканирования регулируемых элементов, а глубину минимума между максимумами в пределах 40 - 60% от их интенсивности. Если из-за погрешности термостатирования изменение температуры нерегулируемых элементов фильтра их полоса пропускания вилка - смещается относительно центра сканируемой полосы регулируемых элементов, и "синий" и "красный" контуры сканируемой полосы попадают на участки контура двойного максимума с одиноковой крутизной, тогда разность сигналов при двух положениях сканируемой полосы остается обусловленной только сдвигом линии. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента