RU 2282180 C1, 20.08.2006. US 2009027654 A1, 29.01.2009. US 6839140 B1, 04.01.2005. RU 86013 U1, 20.08.2009. JP 2004286577 A, 14.10.2004.
Имя заявителя:
Учреждение Российской академии наук Ордена Ленина и Ордена Октябрьской Революции Институт геохимии и аналитической химии им. В.И. Вернадского РАН (ГЕОХИ РАН) (RU)
Изобретатели:
Зуев Борис Константинович (RU) Горкин Павел Александрович (RU) Проскурнин Михаил Алексеевич (RU) Погонин Владимир Иванович (RU) Семенчикова Анна Николаевна (RU) Летунов Александр Алексеевич (RU)
Патентообладатели:
Учреждение Российской академии наук Ордена Ленина и Ордена Октябрьской Революции Институт геохимии и аналитической химии им. В.И. Вернадского РАН (ГЕОХИ РАН) (RU)
Реферат
Изобретение относится к области аналитической химии, а именно к спектрометрии, спектроскопии и спектрофотометрии. Устройство включает оптическую кювету с расположенными в ней диэлектрической диафрагмой, выполненной в центральной части с отверстием, и двумя электродами, расположенными по обе стороны диафрагмы и подключенными к электрическому блоку питания, лазер для зондирования сформированной термолинзы, и блок измерения лазерного излучения с входной диафрагмой, снабжено полупрозрачной пластиной, расположенной под углом 45° к падающему лучу лазера и направляющей излучение в отверстие диафрагмы кюветы, и отражающим зеркалом, расположенным за кюветой по ходу лазерного луча. Устройство также содержит блок контроля стабильности работы лазера с входной диафрагмой и модулятор лазерного излучения, расположенные по ходу луча лазера за и перед полупрозрачной пластиной соответственно и блок управления и регистрации. Выходы блоков измерения лазерного излучения и контроля стабильности работы лазера соединены с входами синхронизирующих детекторов, выходы которых соединены с входом блока управления и регистрации, выход последнего соединен с входом модулятора лазерного излучения. Технический результат заключается в повышении точности, чувствительности и воспроизводимости измерений. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента