|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ ПРИ СПЕКТРАЛЬНОМ АНАЛИЗЕ |  |
Номер публикации патента: 2291406 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01J003/30 G01N021/00 | | Аналоги изобретения: | ЩЕЛПАКОВА И.Р. И ДР. Аналитические возможности многоканального анализатора эмиссионных спектров (МАЭС) в спектральном анализе. Аналитика и контроль. 1988, № 1, с.33-40. RU 2011966 С1, 30.04.1994. RU 2053500 C1, 27.01.1996. RU 93050946 А, 20.08.1996. |
| Имя заявителя: | ГОУ ВПО Омский государственный университет путей сообщения (RU) | | Изобретатели: | Кузнецов Андрей Альбертович (RU)
Пимшин Дмитрий Александрович (RU)
Одинец Александр Ильич (RU) | | Патентообладатели: | ГОУ ВПО Омский государственный университет путей сообщения (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике. В способе спектры эталона и пробы представляют с помощью базисных функций в одних и тех же точках дискретизации и представляют параметры спектральных линий путем корреляционного анализа этих функций, причем в качестве базисных функций используют вейвлет - функцию.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента