|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПЕКТРОМЕТР |  |
Номер публикации патента: 2083960 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01J003/45 | | Аналоги изобретения: | Белл Р. Введение в Фурье-спектроскопию. - М: Мир, 1975, с. 285 - 305. Shimadru. Catalog Fourier Transform Jufrared Spectrophometer FTIR - 8101/8101 M. Prented by Japan 3010-10122-30 ATD, p. 14. |
| Имя заявителя: | Научно-исследовательский институт оптического приборостроения для народного хозяйства и любительской кинофотоаппаратуры ВНЦ "ГОИ им.С.И.Вавилова" | | Изобретатели: | Егорова Л.В.
Кувалкин Д.Г.
Таганов О.К.
Яковлев В.Б. | | Патентообладатели: | Научно-исследовательский институт оптического приборостроения для народного хозяйства и любительской кинофотоаппаратуры ВНЦ "ГОИ им.С.И.Вавилова" |
Реферат | |
Изобретение относится к технической физике, связанной с разработкой спектральной аппаратуры, предназначенной для регистрации спектров оптического диапазона длин волн сильнопоглощающих веществ и объектов любой протяженности. Сущность изобретения: двухлучевой интерферометр прибора выполнен в виде призмы полного внутреннего отражения, состоящей из двух полупризм, каждая из которых представляет собой четырехгранник, у которого два угла прямые, а острый равен 45oC, склеенных по светоделительной грани таким образом, что острые углы в сумме составляют прямой угол, при этом относительный показатель преломления каждой из призм определяется соотношением n≥Sin0-1u, где u - угол между нормалью к грани полного внутреннего отражения интерферометра и прямой, с которой совпадает осевой луч пучка, отраженного от грани полного внутреннего отражения. Кроме того, в интерференционный спектрометр вводится дополнительное кюветное отделение, в котором рабочие полости направляющих образца совмещены с гранями полного внутреннего отражения. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента