|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК СОБСТВЕННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В ИНФРАКРАСНОМ ДИАПАЗОНЕ |  |
Номер публикации патента: 2051337 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01J003/18 | | Аналоги изобретения: | 1. Сликт А. Прикладная ИК-спектроскопия. М.: Мир, 1982, с.24-27. |
| Имя заявителя: | Самарский государственный университет | | Изобретатели: | Ивахник В.В.
Козлов Н.П.
Краснова А.В.
Красночуб Е.К. | | Патентообладатели: | Самарский государственный университет |
Реферат | |
Использование: техника ИК-спектроскопии, а именно устройства для измерения характеристик собственного излучения в инфракрасной области. Сущность изобретения: устройство содержит корпус-криостат, в котором установлена оптическая система. Оптическая система содержит последовательно расположенные термостол, снабженный узлом измерения и регулирования температуры и узлом крепления образца, монохроматор и фотоприемник.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента