|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ И КАЛИБРОВКИ ДИАГРАММ НАПРАВЛЕННОСТИ СВЕТОИЗЛУЧАЮЩИХ УСТРОЙСТВ В ПЛОСКОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2361183 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01J001/18 | | Аналоги изобретения: | RU 2274837 С2, 20.04.2006. RU 2280928 С1, 27.07.2006. RU 2002100247 А, 27.08.2003. RU 2231874 С2, 27.06.2004. SU 1293499 А1, 28.02.1987. |
| Имя заявителя: | Государственное Образовательное Учреждение Высшего профессионального образования "Московский Государственный Открытый Университет" (RU) | | Изобретатели: | Савин Владимир Иванович (RU)
Раннев Георгий Георгиевич (RU)
Юханов Юрий Владимирович (RU)
Ашихмин Владимир Леонидович (RU)
Огурцов Сергей Федорович (RU)
Огурцов Евгений Сергеевич (RU) | | Патентообладатели: | Государственное Образовательное Учреждение Высшего профессионального образования "Московский Государственный Открытый Университет" (RU) |
Реферат | |
Устройство содержит источник излучения, от которого световой поток через аттестованную координатно-модулирующую измерительную линейку и щелевую диафрагму поступает на фотодиод источника излучения, соединенный через преобразователь, усилитель, фильтр нижних частот, компаратор уровня с излучателем оптических сигналов, часть которых поступает на фотоприемное устройство, а другая часть - на полупроводниковый приемник излучения, соединенный через преобразователь, усилитель, фильтр низких частот, предв
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента