|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ КОНТРОЛЯ ЛИНЕЙНОСТИ ГРАДУИРОВОЧНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ СВЕТОВОГО КОЭФФИЦИЕНТА ПРОПУСКАНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2149364 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01J001/42 | | Аналоги изобретения: | Эпштейн М.И. Измерение оптического излучения в электронике.-М.: Энергоатомиздат, 1990, с.175-176. Кудрявцев В.В. и др. Методика определения градуировочных характеристик фотометров, В: Измерительная техника, 1986, № 9, с.26. SU 655944 A, 08.04.1979. EP 0552604 A1, 28.07.1993. US 4223995 A, 23.09.1980. SU 1509629 A1, 23.09.1989. |
| Имя заявителя: | Открытое акционерное общество (ОАО) "ЛОМО" | | Изобретатели: | Волков О.А.
Круглов Р.А.
Ткачев Л.А.
Трегуб В.П. | | Патентообладатели: | Открытое акционерное общество (ОАО) "ЛОМО" |
Реферат | |
Изобретение относится к технике измерения оптических характеристик атмосферы с целью определения метеорологической дальности видимости при метеообеспечении взлета и посадки воздушных судов, а именно к технике контроля линейности световых характеристик фотоэлектрических преобразователей светового коэффициента пропускания. Устанавливают N начальных уровней светового потока при помощи регулируемого аттенюатора и измеряют соответствующие уровни электрического сигнала на выходе фотоэлектрического преобразователя при установке нейтрального светофильтра на пути светового потока Iф и без него Iо, перекрывают световой поток непрозрачным экраном, определяют абсолютную величину систематической погрешности (&Dgr;) (смещение "нуля"), по уточненным значениям Iф' и Iо' вычисляют отношения Xn = Iф'/Iо' для каждого уровня светового потока, вычисляют X, X = (X1 + X2 + X3 + ... + Xn)/n, а также величины абсолютных значений отклонения от среднего Xn-X, по которым выявляют наличие и степень нелинейности градуировочной характеристики фотоэлектрического преобразователя, по минимальным абсолютным значениям отклонений Xn-Xсред определяют линейный (с заданной погрешностью) участок градуировочной характеристики. По среднему значению Xn для линейного участка устанавливают коэффициент пропускания нейтрального светофильтра и выполняют окончательную калибровку фотоэлектрического преобразователя по аттестованному таким образом нейтральному светофильтру. Технический результат заключается в повышении точности контроля линейности. 1 табл., 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента