Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»


УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МНОГОЭЛЕМЕНТНЫХ ПРИЕМНИКОВ ИЗЛУЧЕНИЯ (ВАРИАНТЫ)

Номер публикации патента: 2123173

Вид документа: C1 
Страна публикации: RU 
Рег. номер заявки: 97115742 
  Сделать заказПолучить полное описание патента

Редакция МПК: 
Основные коды МПК: G01J001/04    
Аналоги изобретения: ГОСТ 17772-88. Приемники излучения полупроводниковые фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определение характеристик. ГК СССР по стандартам. - М.: Издательство стандартов, 1988, с.14. Измерение параметров оптического излучения. /П/ред. Курбатова Л.Н. и др. - М.: Радио и связь, 1983, с.71,77 266. SU 1636693 A1, 23.03.91. JP 59-25444 A, 18.06.84. Мирошников М.М. Теоретические основы оптико-электронных приборов. Л.: Машиностроение, 1983, с.237-251. 

Имя заявителя: Акционерное общество закрытого типа Научно-производственное предприятие "Фотоникс" 
Изобретатели: Патрашин А.И.
Иванов Г.А. 
Патентообладатели: Акционерное общество закрытого типа Научно-производственное предприятие "Фотоникс" 

Реферат


Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников. Для достижения указанного технического результата устройство может быть выполнено в двух вариантах. В первом варианте устройство для измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения содержаит источник излучения, соосный с расположенным в непрозрачном корпусе посадочным местом измеряемого приемника излучения и снабженным заслонкой окном корпуса, а также блок регистрации и обработки сигналов, источник имеет плоскую излучающую поверхность, а радиус входного окна корпуса вычисляется из определенного соотношения. Во втором варианте устройство наряду с указанными признаками содержит оптическую систему, выполненную в виде прозрачной пластины с по крайней мере одной, расположенной в центре непрозрачной областью правильной формы. При этом целесообразно размещение оптической системы в окне корпуса. 2 с. и 4 з.п. ф-лы, 5 ил.


Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"