|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ПЬЕЗОЭЛЕМЕНТОВ В ТЕХНОЛОГИЧЕСКОМ ПРОЦЕССЕ ИЗГОТОВЛЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2129284 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R029/22 G01H013/00 | | Аналоги изобретения: | SU 1626201 А1, 07.02.91. SU 1399692 А1, 30.05.98. RU 2059209 С1, 27.04.96. RU 2085958 С1, 27.07.97. DE 2424709, 02.01.75. US 4816743 А, 28.03.89. |
| Имя заявителя: | Московский энергетический институт (технический университет) | | Изобретатели: | Осипов О.И.
Осипов И.О.
Тимошенков Ю.А.
Тимошенкова Н.Ю.
Карюхин А.В. | | Патентообладатели: | Московский энергетический институт (технический университет) |
Реферат | |
Изобретение относится к области радиотехнических измерений и может быть использовано для прецизионного измерения двух параметров пьезоэлемета: собственной частоты и добротности в процессе изготовления радиокомпонентов, шлифования, напыления на пьезоэлектрическую подложку и других операций. Техническим результатом изобретения является расширение функциональных возможностей, частотного диапазона и точности измерения второго параметра пьезоэлемента, например добротности.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента